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X射線能譜儀

X射線能譜儀

進行成分分析時,一般有三種基本的工作方式,分別為:定點分析、線掃、面掃。根據(jù)不同的測試目的,可以選擇相應(yīng)的分析模式。當測試樣品為非均質(zhì)樣品時,可以使用線掃、面掃得到非常直觀的結(jié)果。主要用途:1.表面定性與定量分析。2.維持10um以下的空間分辨率元素成分包括化學態(tài)的深度分析。3.成像功能。4.可進行樣品的原位處理。
X射線能譜儀產(chǎn)品篩選
產(chǎn)品品牌
不限
  • 所有品牌
  • B
  • O
  • S
  • Y
產(chǎn)品產(chǎn)地
不限 中國大陸 大洋洲 歐洲 亞洲 美洲
廠商性質(zhì)
不限 自營 代理 經(jīng)銷
銷售地區(qū)
售全國 售本省 售本市
不限
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X射線能譜儀產(chǎn)品列表

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