X射線能譜儀
進行成分分析時,一般有三種基本的工作方式,分別為:定點分析、線掃、面掃。根據(jù)不同的測試目的,可以選擇相應(yīng)的分析模式。當測試樣品為非均質(zhì)樣品時,可以使用線掃、面掃得到非常直觀的結(jié)果。主要用途:1.表面定性與定量分析。2.維持10um以下的空間分辨率元素成分包括化學態(tài)的深度分析。3.成像功能。4.可進行樣品的原位處理。
X射線能譜儀產(chǎn)品篩選
- 產(chǎn)品品牌
-
不限
- 所有品牌
- B
- O
- S
- Y
展開更多選項
X射線能譜儀產(chǎn)品列表
- X射線能譜儀
- 儀器網(wǎng)產(chǎn)品專場為您提供X射線能譜儀規(guī)格型號、性能參數(shù)、產(chǎn)品價格、詳細產(chǎn)品圖片以及廠商聯(lián)系方式等實用信息,您可以通過設(shè)置不同查詢條件,選擇滿足您實際需求的產(chǎn)品,同時產(chǎn)品專場還為您提供優(yōu)選X射線能譜儀的相關(guān)招標采購等綜合信息。